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電渦流法測厚原理

更新時間:2023-07-17      點擊次數(shù):1718
電渦流法測厚原理


物g理原理及主要影響因素

根據(jù)振幅敏感渦流法進行測量的探頭具有鐵素體磁芯。通有高頻交變電流的線圈繞在這個磁芯上,并在線圈周圍產(chǎn)生高頻交變磁場。

當探頭靠近金屬時,會在金屬中產(chǎn)生交變電流(也稱“渦流")。該渦流反過來又會產(chǎn)生另一個交變磁場。由于第二個磁場方向與初始磁場方向相反,所以初始磁場被削弱,削弱的程度取決于探頭和金屬之間的距離。對于涂層樣品,這個距離正好就對應了涂層的厚度。

測量過程中需要注意的事項

所有的電磁測量法都是通過比較的方法。也就是將測量信號與存儲在設備中的特征曲線進行比較。為了得到正確的結果,特征曲線必須與當前條件相匹配,可通過校準來實現(xiàn)。 

正確的校準才是關鍵!

渦流法測量的影響因素有:樣品的電導率、形狀、尺寸、以及表面粗糙度。當然,儀器的正確操作也至關重要!

電導率的影響

材料的電導率會影響渦流在其中的感應程度。不同種類的合金或不同的金屬加工方式,其電導率都會有很大不同,溫度的變化也會導致電導率發(fā)生變化。為了盡可能簡化校準工作,F(xiàn)ischer的渦流探頭具有電導率補償功能。只需要在對應的材料上進行正常化校正(即零點校正),它們就能在很廣的電導范圍內提供正確的測量結果。

曲面的影響

實際上,大多數(shù)測量誤差是由于樣品的形狀造成的。對于曲面,通過空間的磁場比例是不同的。例如,在平板上校準儀器,在凹面上測量會導致測量結果偏低,而在凸面上測量會導致測量結果偏高。 這種方式造成的誤差可能是實際值的數(shù)倍!



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